3.4交錯配置及變體
商用車的產(chǎn)品體積通常比客車小。而且，用戶往往對諸如發(fā)動機(jī)扭轉(zhuǎn)力，有效載荷等[5]技術(shù)規(guī)范要求更多。因此，汽車制造商經(jīng)常用產(chǎn)品變體滿足更大的客戶群，從而增加市場份額及產(chǎn)品生產(chǎn)量。所以，商用車輛的嵌入式系統(tǒng)包括來自多個供應(yīng)商的組件，且存在于大量的配置和變體里。
這導(dǎo)致了為了覆蓋龐大的產(chǎn)品變體而進(jìn)行的測試活動方面的巨大的工作量。
3.5分布式開發(fā)
由于商用車部件變體的不一致性，汽車制造商不可能開發(fā)其所有的內(nèi)部產(chǎn)品。相反，他們更愿意依賴第三方供應(yīng)商成熟的專業(yè)知識。
由于這個原因，部分還因?yàn)閲?yán)格的成本要求，商用車的發(fā)展在很大程度上被分散和外包[ 6 ]了 。這形成了許多供應(yīng)鏈關(guān)系使得規(guī)范新及各級一致很困難。
事實(shí)上，制造商終也沒能在一個“黑盒”元件的內(nèi)部設(shè)計(jì)出什么細(xì)節(jié)[4]。這增加了定位單元和集成層次的組件測試誤差的復(fù)雜性。
4 .汽車軟件測試實(shí)踐
本節(jié)概述了汽車軟件測試?yán)锏膶?shí)踐情況。
本研究著眼于商用車領(lǐng)域，但本節(jié)的研究結(jié)果適用于整個汽車行業(yè)。
請注意，本節(jié)中的經(jīng)驗(yàn)于汽車行業(yè)主要名人們使用的主流做法。還有其他一些包括研究和技術(shù)創(chuàng)新的做法，被排除在本研究之外。
這里，我們的目的是提供一些明確的汽車行業(yè)的主要做法。
4.1基于模型的開發(fā)和測試
根據(jù)作者與主要汽車制造商、供應(yīng)商合作的經(jīng)驗(yàn)，現(xiàn)代汽車開發(fā)過程中模型驅(qū)動工程有著強(qiáng)勁的發(fā)展勢頭。這包括開發(fā)過程的各個階段，即從需求到驗(yàn)證。
模型是表示系統(tǒng)行為一部分的一個抽象視圖。
工程師很早期使用特定領(lǐng)域建模技術(shù)為系統(tǒng)行為建模，使他們能夠通過模型自動生成代碼并在實(shí)施前測試系統(tǒng)，快速開發(fā)系統(tǒng)。
基于模型的測試的基本思想是：應(yīng)用選定的算法由模型[13]自動生成測試，而不是手動創(chuàng)建測試用例。
除了自動化程度高，基于模型的測試還有助于由抽象層面來維持系統(tǒng)模型間的可追蹤性并由系統(tǒng)執(zhí)行層面來測試輸出間的可追蹤性。這使得錯誤的來源容易追蹤，也降低了整體測試活動的精力和成本。
4.2循環(huán)X測試水平
基于模型的開發(fā)和測試的不同階段是用汽車SPICE開發(fā)標(biāo)準(zhǔn)所推薦的V模型（見圖1）手動描述的。
V模型通常被設(shè)計(jì)來進(jìn)行符合開發(fā)流程的不同水平的測試工作。
這些水平的測試被稱為循環(huán)模型，循環(huán)軟件，循環(huán)處理器（HIL）和循環(huán)硬件（又名循環(huán)X [ 7 ] ）測試，說明如下。
MIL （循環(huán)模型） ：
MIL提供可用系統(tǒng)（或子系統(tǒng)）模型的測試，且該模型及其環(huán)境沒有任何物理硬件可以進(jìn)行仿真模擬。該系統(tǒng)的輸入、輸出界面被定義為關(guān)于不同的測試場景。
輸入信號值進(jìn)行了模擬，且相應(yīng)的輸出信號值與在該場景中定義的預(yù)期值進(jìn)行了比較。
很早期甚至早在實(shí)施之前，MIL測試可以進(jìn)行系統(tǒng)的功能驗(yàn)證。
由于在同一臺機(jī)器上的模型和環(huán)境類似，所以不需要實(shí)時硬件了。
SiL（循環(huán)軟件） ：
SIL進(jìn)行可執(zhí)行代碼段（或?qū)嵤┒危┑臏y試。
在同一個機(jī)器上的操作情況相似。因此，此水平不需要實(shí)時硬件。
所有關(guān)于存儲容量，數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)等的細(xì)節(jié)都是由被模擬的環(huán)境控制的。這確保了任何“運(yùn)行時錯誤”（緩沖區(qū)溢出，除以零，非法類型轉(zhuǎn)換錯誤等）在實(shí)施時的檢測。
此外，它還使系統(tǒng)行為可以通過運(yùn)行MIL里同樣的測試場景對模型進(jìn)行驗(yàn)證。
PIL （循環(huán)處理器） ：
PIL確保在目標(biāo)處理器或目標(biāo)處理器模擬器上運(yùn)行時，可以測試實(shí)施過程。
執(zhí)行環(huán)境通常仍是通過一個專用的實(shí)時仿真器模擬的。
這個階段的故障可以與目標(biāo)編譯器（聯(lián)動，優(yōu)化選項(xiàng)，等等）或目標(biāo)處理器架構(gòu)聯(lián)系起來。
MIL和SIL的測試場景在這可以用來與原結(jié)果進(jìn)行比較，確保代碼功能正確，即使是在它已被編譯并在目標(biāo)處理器上運(yùn)行后。
HiL（循環(huán)硬件） ：
HiL使現(xiàn)被嵌入實(shí)際硬件（ECU）中的實(shí)施得以被測試。這是通過把ECU和一個專用的實(shí)時仿真器連接起來完成的，此仿真器闡明了ECU對分析結(jié)果的測試環(huán)境的實(shí)際輸入/輸出。
ECU用來交流的嵌入式系統(tǒng)的其他部分仍然可以被模擬。
然而，它們與真實(shí)的電子信號進(jìn)行交互。
HiL里的測試可以在實(shí)時環(huán)境中分析代碼和硬件集成。
此水平的故障，也與輸入/輸出界面間的低水平通信，與嵌入式系統(tǒng)的其他部分的實(shí)時通信有關(guān)。
MIL和SIL的測試場景可以用來驗(yàn)證先前觀察到的系統(tǒng)行為。
圖1. V模型闡明循環(huán)X測試階段
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